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         頂點(diǎn)光電子商城2024年12月4日消息：近日，長(zhǎng)光辰芯（Gpixel）宣布推出兩款高速、高靈敏度背照式 TDI CMOS 圖像傳感器：GLT5008BSI 和 GLT5016BSI。

         此兩款產(chǎn)品采用更優(yōu)化的設(shè)計(jì)，具有更高的行頻、更高量子效率，更好的片上集成度，更加匹配半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)、FPD 檢測(cè)、高通量基因測(cè)序、生物熒光成像等行業(yè)的應(yīng)用需求。

在分辨率方面，GLT5008BSI水平方向有效分辨率為8208像素。GLT5016BSI水平方向有效分辨率為16416像素，是16K級(jí)別的背照式CMOS TDI圖像傳感器。

        在靈敏度方面，兩者均采用背照式工藝，提高了量子效率。峰值量子效率高，尤其在特定波長(zhǎng)下表現(xiàn)出色（如440nm處可達(dá)92.4%以上）。

       在性能方面，GLT5008BSI最高行頻可達(dá)1MHz（部分配置下為500kHz）。GLT5016BSI最高行頻可達(dá)500kHz。

        在數(shù)據(jù)輸出方面，GLT5008BSI最高輸出數(shù)據(jù)率為86.4Gbps。GLT5016BSI最高輸出數(shù)據(jù)率為103.7Gbps。

        在集成度方面，兩款傳感器均集成了時(shí)序控制模塊和電源管理模塊。支持通道合并、可選掃描方向等功能。

       在低功耗與散熱方面，GLT5016BSI在最高行頻下功耗小于6.4W。采用415引腳的μPGA陶瓷封裝，確保高可靠性和良好的散熱性能。

        在技術(shù)亮點(diǎn)方面，背照式工藝提高了量子效率，使得傳感器在弱光環(huán)境下也能表現(xiàn)出色。時(shí)延積分（TDI）技術(shù)能夠在捕捉快速運(yùn)動(dòng)或瞬時(shí)變化的圖像時(shí)，顯著提升圖像質(zhì)量。高數(shù)據(jù)輸出率與100GiGE相機(jī)接口使得傳感器能夠輕松應(yīng)對(duì)大數(shù)據(jù)量的處理需求，為系統(tǒng)集成提供了便利。

       長(zhǎng)光辰芯還提供不同譜段的ARC（抗反射涂層）定制服務(wù)，以滿足更多樣化的應(yīng)用需求。這為用戶提供了更多的選擇和靈活性。

         總之，長(zhǎng)光辰芯發(fā)布的這兩款高速、高靈敏度背照式CMOS TDI圖像傳感器在多個(gè)技術(shù)指標(biāo)上都顯示出了獨(dú)特的競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)，為基因測(cè)序、半導(dǎo)體檢測(cè)、屏幕檢測(cè)等領(lǐng)域帶來(lái)了更加準(zhǔn)確、簡(jiǎn)單、高效的解決方案。